Navegação por assunto "Reflectometria a laser"
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Caracterização ótica in-situ de filmes finos de a-C:H depositados por plasmas.
| Postado em: 01 out. 2010In this work we report the in-situ optical characterization of plasma-deposited a-C:H films, from near-normal reflectance at 633 nm wavelength. The films were deposited by radio frequency Plasma Enhances Chemical Vapor ...